半導體專用失效分析與可靠度測試解決方案
Failure Analysis and Reliability Solution for Semiconductor
Precision Curve Tracer (精準曲線追踪儀; sub-pA level)
提供及時的IV曲線, 同時可立即儲存圖形與資料; 實為失效分析必備之利器!
提供及時的IV曲線, 同時可立即儲存圖形與資料; 實為失效分析必備之利器!
Multi-Channel Curve Analyzer / Curve Tracer
提供多通道(e.g., 672+ channels)可作PIN-to-PIN, PIN-to-GND等任意組合,
同時可作多PIN IV Curve比較與分析; 實為Package IC失效分析另一必備之利器!
提供多通道(e.g., 672+ channels)可作PIN-to-PIN, PIN-to-GND等任意組合,
同時可作多PIN IV Curve比較與分析; 實為Package IC失效分析另一必備之利器!
可靠度測試系統
可進行多顆DUT測試, 配合Hot/Cold Chamber可進行多種JEDEC可靠度測試
(e.g., HTRB, HTOL, HAST)以及DUT壽命預測 (Life Time Prediction)
可進行多顆DUT測試, 配合Hot/Cold Chamber可進行多種JEDEC可靠度測試
(e.g., HTRB, HTOL, HAST)以及DUT壽命預測 (Life Time Prediction)