光電半導體元件之高流高速脈衝特性自動測試系統
Automatic Photonic Device Measurement System for High Current and High Speed Characterization
此測試系統針對現今產業中較常使用到的發光二極體(Light Emitting Diode,LED)與雷射二極體(Laser Diode,LD)這兩種光電半導體元件的高流高速脈衝特性進行測試驗證。
由於目前光電半導體元件已被大量的使用於距離量測的應用上,而距離量測的應用都要求光電半導體元件需使用脈衝電流的方式來進行驅動,且驅動的脈衝電流需滿足高流(電流振幅需大於等於1A)及高速(脈衝寬度需小於等於200ns)的條件。但因目前光電半導體元件的製造商對於高流高速脈衝特性的測試並無一套較為完整的自動測試系統可供使用。因此本公司提出此套自動測試系統主要是用以解決光電半導體元件製造商於產品設計開發過程中需進行高流高速脈衝特性驗證時所面臨的困擾。
由於目前光電半導體元件已被大量的使用於距離量測的應用上,而距離量測的應用都要求光電半導體元件需使用脈衝電流的方式來進行驅動,且驅動的脈衝電流需滿足高流(電流振幅需大於等於1A)及高速(脈衝寬度需小於等於200ns)的條件。但因目前光電半導體元件的製造商對於高流高速脈衝特性的測試並無一套較為完整的自動測試系統可供使用。因此本公司提出此套自動測試系統主要是用以解決光電半導體元件製造商於產品設計開發過程中需進行高流高速脈衝特性驗證時所面臨的困擾。
高流高速脈衝特性自動測試系統架構
5A高流高速脈衝特性實際測試結果
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2019 創新發明應用研討會論文
ISBN / 978-986-463-971-7
ISBN / 978-986-463-971-7
2019 創新發明應用研討會_論文_光電半導體元件之高流高速脈衝特性自動測試系統 ISBN_978-986-463-971-7.pdf |